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JEOL NeoARM即将来到OU

JEOL NeoARM + CEFID分析像差校正STEM即将进入OU

b–d, TEM–EDS maps (b) and HAADF STEM (c,d) with Fourier-filtered images of the F–Co-washed cathode surface at the marked regions in panel b by yellow marks, respectively.
b - d, TEM-EDS图(b)和HAADF STEM图(c,d)分别为图b中黄色标记区域的f共洗阴极表面的傅里叶滤波图像。来自Ryu, HH。, Lim, HW。李,S.G.等。能源学报,2009,37(2)。

在美国国家科学基金会核磁共振奖和OVPRP的支持下,OU购买了JEOL NeoARM 200kV像差校正STEM材料专用显微镜。这种最先进的仪器将使皇冠体育研究人员能够探测材料的结构,最终分辨率达到70 pm。DECTRIS Ela混合像素直接电子相机与CEOS能量滤波器/ EELS相结合,将能够在原子水平上皇冠体育研究薄膜,能源和电池材料以及其他半导体器件的电子结构。此外,高通量EDS检测器允许对显微镜上成像的所有样品进行快速化学制图,从而使皇冠体育研究人员能够快速皇冠体育研究其材料的各个方面,直到原子水平。林厅B21室已准备好放置显微镜。预计将于3月25日(星期二)交货,之后将立即进行安装。我们希望在春季学期结束前将仪器准备好支持用户,敬请期待!

JEOL NeoARM上拍摄的图像和光谱:Ryu, HH。, Lim, HW。李,S.G.等。能源学报,2009,37(2)。https://doi.org/10.1038/s41560-023-01403-8